تحليل التألق بالأشعة السينية (TXRF)

قياس الطيف التألقي بالأشعة السينية Total X-Ray Reflection Fluorescence ( TXRF)

الشركة المصنعة: GNR، إيطاليا

الموديل: TX2000

يعتمد عمل جهاز TXRF على جهاز XRF، ومن مزايا جهاز TXRF مقارنة بـ XRF، نظرًا لانخفاض زاوية الاصطدام، يمكن الإشارة إلى عدم التداخل الطيفي وحساسيته العالية. ميزة أخرى مهمة لهذا الجهاز مقارنة بأجهزة التحليل العنصري مثل الامتصاص الذري، هي التحليل الكمي والنوعي للعناصر في نفس الوقت.

مواصفات معدات الجهاز:

• الأنود التنغستن والموليبدينوم
• الكاشف (SiLi)

الاستخدامات

يمكن استخدامه لقياس تركيز العناصر ذات العدد الذري الأكبر من 11 (أعلى من الصوديوم) في عينات التربة والصخور، والمنتجات الزراعية، والمعادن، والمواد الكيميائية السائلة والصلبة، والدم والسوائل والأنسجة الأخرى الموجودة في الجسم، وما إلى ذلك. دقة القياس تعتمد على نوع العنصر في حدود جزء في المليون و جزء في البليون.